Surface Forces Apparatus(SFA) Technique

SFA在了解表界面間的相互作用中做出了許多貢獻(xiàn)，半個(gè)世紀(jì)以來廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域的研究，例如，配體-受體相互作用，貽貝啟發(fā)的粘附機(jī)制，脂質(zhì)雙分子層，電化學(xué)表面力，以及潤滑與磨損等。

SFA通常使用交叉圓柱進(jìn)行操作。首先，它規(guī)避了準(zhǔn)確對齊兩個(gè)平行板的困難，從而避免不必要的邊緣效應(yīng)；其次，可以通過橫向移動(dòng)圓柱體來研究相同表面上不同的接觸點(diǎn)。如果在實(shí)驗(yàn)過程中出現(xiàn)表面的磨損或污染，則可以很容易地找到新的接觸區(qū)；最后，該幾何形狀方便地將測量結(jié)果與通常用于平坦表面的理論模型進(jìn)行比較。

如果彎曲表面之間的距離D比其曲率半徑R小得多，則通過Derjaguin近似，等效于球體與平面的接觸。兩個(gè)這樣的表面之間的力F可能與每單位面積E的平坦表面之間的相互作用能量有關(guān)，即 E =F/2πr。這提供了一種歸一化方法，以定量比較來自不同實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)。

一般地，SFA使用云母作為基底，因?yàn)樗梢詫⑵淞呀獬删哂性庸饣砻娴木鶆蚝竦拈g隔層。SFA 技術(shù)的主要優(yōu)勢之一在于可以對接觸區(qū)域進(jìn)行成像以確定表面之間的距離、限制在它們之間的薄膜的折射率以及接觸區(qū)域的幾何形狀。因此成為了摩擦學(xué)領(lǐng)域中少數(shù)能夠原位實(shí)時(shí)成像接觸區(qū)域幾何形狀的技術(shù)之一，并且具有亞納米分辨率的技術(shù)。多光束干涉儀(MBI)用于此目的。高反射層沉積在云母表面的背面，白光通過這個(gè)干涉結(jié)構(gòu)。兩個(gè)反射鏡之間的分層介質(zhì)傳輸?shù)墓獾膹?qiáng)度取決于光學(xué)厚度：只有在腔中的多次反射之后相長干涉的波長才能穿過多層系統(tǒng)。然后可以將出現(xiàn)的光束聚焦在光譜儀上。由此產(chǎn)生的相長干涉條紋（等色序條紋，F(xiàn)ECO）攜帶著關(guān)于光路中不同層的厚度和折射率的信息。特別是，限制在云母表面之間的薄膜的厚度和折射率可以分別以0.1 nm和0.01的精度確定。Jocab Israelachvili開發(fā)了簡單的表達(dá)式，從FECO的波長計(jì)算這些數(shù)量，用于限制在相同厚度的云母表面之間的薄膜。后來，分析已擴(kuò)展到不對稱、吸附、各向異性或更復(fù)雜的多層系統(tǒng)。擴(kuò)展分析以獲取有關(guān)表面粗糙度的信息的潛力也已得到證實(shí)。

典型SFA實(shí)驗(yàn)中的法向相互作用力，其中一個(gè)表面使用電機(jī)/壓電元件的進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，而另一個(gè)表面則連接到帶有固定端的校準(zhǔn)彈簧。通過逐漸改變雙懸臂彈簧的固定端與另一表面之間的距離來測量相互作用力，并使表面之間的分離達(dá)到平衡狀態(tài)。位移與表面之間的間距的實(shí)際變化之間的差異，ΔD由MBI測量。

在摩擦學(xué)實(shí)驗(yàn)中，云母表面達(dá)到一定的間隔T。通過在表面之間施加橫向位移，并測量由該位移引起的力。通常施加一定的法向載荷L。如果載荷足夠高，則表面下的膠層會(huì)發(fā)生彈性變形，薄膜被限制在均勻厚度T和接觸面積A的平坦圓形區(qū)域。通過使用MBI，可以在滑動(dòng)表面時(shí)獲得接觸表面的圖像，從而可以監(jiān)控接觸區(qū)域的大小和輪廓以及表面之間的距離。剪切引起的彈性流體動(dòng)力變形也可以區(qū)分。此外，一旦發(fā)生表面損壞，就可以很容易地檢測到它，從而可以區(qū)分未損壞的滑動(dòng)和磨損摩擦，并獨(dú)立研究這兩種情況。

使用SFA與其他直接表面力測量（例如，AFM和全反射顯微鏡TRM）相比具有以下幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)：

表面力響應(yīng)于界面特性敏感地變化，因此力分布包含有關(guān)界面特性及其從表面到本體/液體變化的信息。簡單的情況是(1)在帶電表面和電解質(zhì)溶液之間的界面處形成的雙電層，以及(2)聚合物吸附層的空間排斥。表面力測量直接監(jiān)控這些特性，表征它們的替代方法是X射線和/或中子反射方法，但都需要大型設(shè)施和模型數(shù)據(jù)分析。SFA測量簡單、直接且緊湊。

使用SFA進(jìn)行測量的另一個(gè)重要特征是可以監(jiān)測大尺寸表面的作用，即數(shù)十個(gè)微米的接觸直徑，能夠同時(shí)測量許多分子的相互作用。當(dāng)使用力探針的原子力顯微鏡進(jìn)行單分子測量時(shí)，實(shí)際材料中常見的多個(gè)分子之間的相互作用不一定能被單分子相互作用的總和來描述。SFA測量與由許多分子和/或處于凝聚態(tài)的真實(shí)系統(tǒng)密切相關(guān)。例如對聚電解質(zhì)刷層的研究——揭示了它們的集體特性和依賴于密度的轉(zhuǎn)變。